AFM (真空控溫型掃描式探針顯微鏡)
儀器規格:
SEIKO E-sweep System 真空控溫型原子力顯微鏡
服務項目: (1)樣品奈米級表面形貌 (2)樣品表面摩擦力大小分佈圖 (3)量樣品表面磁性分佈圖 (4)測量樣品表面導電性質分佈圖 (5)測量樣品表面Phase分佈圖 (6)測量出樣品表面電位能分佈圖 (7)測量樣品表面穿遂電流分佈圖 (8)以上功能皆可在 -120℃ ~ 300℃ 的溫度範圍量測及真空度可到1×10-6 Torr
收費辦法:
● 校內:$2,500NT / 小時 | ● 校外:$5,000NT / 小時 委託機台負責人操作 (如長時間使用價格可談) | 探針需自備或付費使用(依探針種類) 校外一律委託操作避免機台故障,校內需經認証後得可自行操作 特殊有機試片需經機台保管人之同意,避免污染腔體,校內認證資格需為光電所學生。
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試片準備:
限制特定半導體,須經指導教授核可,有機揮發性材料無法使用,避免污染腔體。
開放時間: 週一至週五 早上9:00~12:00 下午1:30~6:00 (實際上機時間需與儀器聯絡人聯繫) 儀器地點:F4016
聯絡方式 : 指導教授﹕ 光電所 賴聰賢教授 Tel﹕(07)5252000 ext 4458 E-mail﹕ tslay@mail.nsysu.edu.tw
儀器聯絡人: AFM - 曾德恩 07-5252000 ext 4461 E-mail:JeffreyTzeng@gmail.com
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