AFM (真空控溫型掃描式探針顯微鏡)


儀器規格

SEIKO E-sweep System 真空控溫型原子力顯微鏡

 服務項目
(1)樣品奈米級表面形貌
(2)樣品表面摩擦力大小分佈圖
(3)量樣品表面磁性分佈圖
(4)測量樣品表面導電性質分佈圖
(5)測量樣品表面Phase分佈圖
(6)測量出樣品表面電位能分佈圖
(7)測量樣品表面穿遂電流分佈圖
(8)以上功能皆可在 -120℃ ~ 300℃ 的溫度範圍量測及真空度可到1×10-6 Torr

 收費辦法: 

校內:$2,500NT / 小時

校外:$5,000NT / 小時 委託機台負責人操作 (如長時間使用價格可談)


探針需自備或付費使用(依探針種類)
校外一律委託操作避免機台故障,校內需經認証後得可自行操作
特殊有機試片需經機台保管人之同意,避免污染腔體,校內認證資格需為光電所學生。


 試片準備

限制特定半導體,須經指導教授核可,有機揮發性材料無法使用,避免污染腔體。

 開放時間
週一至週五 早上9:00~12:00 下午1:30~6:00
(實際上機時間需與儀器聯絡人聯繫)


 儀器地點:F4016


 聯絡方式
指導教授﹕
光電所 賴聰賢教授
Tel﹕(07)5252000 ext 4458
E-mail﹕ tslay@mail.nsysu.edu.tw  

儀器聯絡人:
AFM - 曾德恩 07-5252000 ext 4461
E-mail:JeffreyTzeng@gmail.com
 

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創作者 量子元件暨分子束磊晶實驗室 的頭像
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